Dispositivos semiconductores: principios y modelos (Registro nro. 14613)

Detalles MARC
000 -CABECERA
Longitud fija campo de control 04569nam a22003137a 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
Número de control 6633
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
Identificador del número de control EC-UPSE
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
Fecha y hora de la última transacción 20240411103201.0
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA - CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
Códigos de información de longitud fija - Características del material adicional a||||g ||i| 00| 0
008 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA
Códigos de información de longitud fija   170712s ec ||||| |||| 00| 0 spa d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS
Número Internacional Normalizado para Libros (ISBN) 9789871609406
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador de origen UPSE
041 0# - CÓDIGO DE LENGUA
Código de lengua del texto;banda sonora o título independiente spa
082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Número de clasificación 621.3
Cutter JULd
100 1# - PUNTO DE ACCESO PRINCIPAL-NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Julián, Pedro,
Término indicativo de función autor
9 (RLIN) 5126
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Dispositivos semiconductores: principios y modelos
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA)
Lugar de publicación, distribución, etc. Buenos Aires (Argentina):
Nombre del editor, distribuidor, etc. Alfaomega Grupo Editor Argentino,
Fecha de publicación, distribución, etc. 2013
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 262 páginas
Dimensiones 23x17 cm.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Fuente rdacontent
Término de tipo de contenido text
Código de tipo de contenido txt
337 ## - TIPO DE MEDIO
Fuente rdamedia
Nombre del tipo de medio no mediado
Código del tipo de medio n
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Fuente rdacarrier
Nombre del tipo de soporte volumen
Código del tipo de soporte nc
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Incluye tablas, cuadros
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Modelos de circuitos eléctricos.--<br/>Bloques constitutivos de modelos.-- <br/>Resistores.-- <br/>Capacitores.--<br/>Inductores.--<br/>Memristores.-- <br/>Fuentes independientes.-- <br/>Fuentes controladas.--<br/>Clasificación de modelos.--<br/>Modelos según la amplitud.-- <br/>Modelos según la frecuencia.-- <br/>Construcción de modelos.--<br/>Introducción a los semiconductores.-- <br/>Bandas de Energía en Silicio.-- <br/>Equilibrio Térmico.--<br/>Dopado.-- <br/>Dopado Tipo N.-- <br/>Dopado Tipo P.-- <br/>Compensación.-- <br/>Mecanismos de conducción.-- <br/>Arrastre <br/>Densidad de corriente de arrastre.--<br/>Difusión.-- <br/>Densidad de corriente de difusión.-- <br/>Resistividad de una lámina de Silicio.-- <br/>Potenciales relativos en Silicio.-- <br/>Juntura Semiconductora y Diodos.--<br/>Descripción Cualitativa.-- <br/>Electroestática de la Juntura.-- <br/>Modelo de DC.-- <br/>Ley de la Juntura.-- <br/>Solución en directa.-- <br/>Solución en inversa.-- <br/>Desviaciones del comportamiento ideal.-- <br/>Efectos de la temperatura.-- <br/>Modelo Lineal Incremental.-- <br/>Modelo de AC.--<br/>Capacidad en inversa.--<br/>Capacidad en directa.-- <br/>Mecanismos de ruptura inversa.-- <br/>Efecto túnel.-- <br/>Efecto Avalancha.-- <br/>Capacitor MOS.-- <br/>Descripción Cualitativa.-- <br/>Electroestática del capacitor MOS.-- <br/>Potencial de Banda Plana.--<br/>Acumulación.--<br/>Vaciamiento.--<br/>Inversión.-- <br/>Modelo de AC.-- <br/>Otras configuraciones.-- <br/>Capacitor MOS sobre un sustrato P y gate P.-- <br/>Capacitor MOS sobre un sustrato N y gate N.-- <br/>Capacitor MOS sobre un sustrato N y gate P.--<br/>Transistor MOS.-- <br/>Descripción cualitativa.-- <br/>El transistor NMOS.-- <br/>Principio básico de funcionamiento.-- <br/>Derivación simplificada.-- <br/>Derivación avanzada.-- <br/>Modelo referido al Sustrato.-- <br/>Modelo referido al source.-- <br/>Desviaciones del comportamiento ideal.-- <br/>Modulación de la longitud del canal.-- <br/>Efectos de la temperatura.-- <br/>Corriente subumbral.-- <br/>El transistor PMOS.-- <br/>Principio básico de funcionamiento.-- <br/>Derivación simplificada.-- <br/>Derivación avanzada.-- <br/>Modelo referido al Sustrato Modelo referido al source.-- <br/>Desviaciones del comportamiento ideal.-- <br/>Modelo lineal incremental.-- <br/>MLI referido al sustrato.-- <br/>Zona de triodo.-- <br/>Zona de saturación.-- <br/>MLI referido al source.-- <br/>Zona de triodo.-- <br/>Zona de saturación.-- <br/>Modelo de AC.-- <br/>Capacidad de gate.--<br/>Corte.--<br/>Triodo.-- <br/>Saturación Capacidad de junturas.--<br/>Capacidad de solapamiento.-- <br/>Límite de validez del modelo de AC.-- <br/>Transistores bipolares.-- <br/>Descripción cualitativa.-- <br/>Modelo de DC del transistor PNP.-- <br/>Región de conducción activa directa.-- <br/>Región de conducción activa inversa.-- <br/>Región de saturación y el Modelo de Ebers-Moll.-- <br/>Modelos simplificados.--<br/>Desviaciones del comportamiento ideal.-- <br/>Corriente de pérdida.--<br/>Ganancia de corriente.--<br/>Modelo de DC del transistor NPN.-- <br/>Región de conducción activa directa.-- <br/>Región de conducción activa inversa.-- <br/>Región de saturación y el Modelo de Ebers-Moll.-- <br/>Modelos Simplificados.--<br/>Modelo Lineal Incremental (MLI).-- <br/>El modelo híbrido-pi.-- <br/>Modelo de AC.-- <br/>Capacidad de vaciamiento.-- <br/>Capacidad de carga de la base.-- <br/>Límite de validez del modelo de AC.--<br/>Conducción: conceptos auxiliares.-- <br/>Tiempo de tránsito.-- <br/>Efecto Hall.--<br/>Electroestática.-- <br/>Potenciales de contacto.-- <br/>Modelos de SPICE.--<br/>Fuentes.-- <br/>Fuentes independientes.-- <br/>Fuentes dependientes.-- <br/>Dispositivos pasivos.--<br/>Resistencias.--<br/>Capacitores.--<br/>Inductores.-- <br/>Inductores mutuos.-- <br/>Dispositivos semiconductores.--<br/>Diodo.-- <br/>Transistores bipolares.--<br/>Transistores MOS.-- <br/>Modelo de nivel 1.-- <br/>Modelos de niveles 2 y 3.-- <br/>Modelo de nivel 4.<br/>
650 14 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial CIRCUITOS ELECTRICOS
9 (RLIN) 11946
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial SEMICONDUCTORES
9 (RLIN) 13472
690 ## - Areas y subareas del conocimiento
Término local o nombre geográfico como elemento de entrada Ingenieria, industria y construcción - Ingeniería y profesiones afines
700 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL - NOMBRE DE PERSONA
9 (RLIN) 19304
Nombre de persona Fernández, Damián
Término indicativo de función editor
942 ## - ENTRADA DE ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA)
Fuente de clasificaión o esquema Dewey Decimal Classification
Koha [por defecto] tipo de item Libros
Existencias
Suprimido Perdido Fuente de clasificación o esquema Estropeado No para préstamo Código de colección Localización permanente Localización actual Localización en estanterías Fecha adquisición Fuente de adquisición Préstamos totales Clasificación completa Código de barras Fecha última consulta Fecha del precio de reemplazo Tipo de item de Koha
    Dewey Decimal Classification     Fac de Sistemas y Telecomunicaciones - Carrera de Electrónica y Telecomunicaciones Biblioteca General Biblioteca General En biblioteca 26/02/2015 Compra   621.3 JULd BG0015713 12/07/2017 12/07/2017 Libros
    Dewey Decimal Classification     Fac de Ciencias de la Educación e Idiomas - Carrera de Informática Educativa Biblioteca General Biblioteca General En biblioteca 15/04/2016 Compra   621.3 JULd BG0018428 12/07/2017 12/07/2017 Libros

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